SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR
Texas Instruments
Артикул:
SN74LVTH182512DGGR
Нет в наличии
Мин. заказ: 2000 шт.
587.88 руб./шт
Под заказ
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Цена действительна только для интернет-магазина и может отличаться от цен в розничных магазинах
Уточнить под заказ
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Характеристики
Ссылка на внешнюю документацию | Техническая документация |
Производитель | Texas Instruments |
Минимальный заказ | 2000 |
Package / Case | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Supplier Device Package | 64-TSSOP |
Logic Type | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Supply Voltage | 2.7V ~ 3.6V |
Manufacturer | Texas Instruments |
Series | 74LVTH |
Number of Bits | 18 |
Mounting Type | Surface Mount |
Packaging | Tape & Reel (TR) |
Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
Задать вопрос
Дополнительно
Дополнительная информация отсутствует.
Отзывы
Задать вопрос
Будьте всегда в курсе!
Узнавайте о скидках и акциях первым
Новости
Все новости
16 сентября 2024
Радарные уровнеметры
29 августа 2024
Твердотельные аккумуляторы
19 марта 2024
Прямые поставки продукции СВЧ