SN74ABT8245DWR
SN74ABT8245DWR
Texas Instruments
Артикул:
SN74ABT8245DWR
Нет в наличии
Мин. заказ: 1 шт.
>1 шт
874 руб./шт
>10 шт
789.36 руб./шт
>100 шт
654.12 руб./шт
>500 шт
569.48 руб./шт
>1000 шт
495.88 руб./шт
Под заказ
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Цена действительна только для интернет-магазина и может отличаться от цен в розничных магазинах
Уточнить под заказ
Описание
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Характеристики
Ссылка на внешнюю документацию | Техническая документация |
Производитель | Texas Instruments |
Минимальный заказ | 1 |
Package / Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Supplier Device Package | 24-SOIC |
Logic Type | Scan Test Device with Bus Transceivers |
Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
Manufacturer | Texas Instruments |
Series | 74ABT |
Number of Bits | 8 |
Mounting Type | Surface Mount |
Packaging | Cut Tape (CT) |
Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
Задать вопрос
Дополнительно
Дополнительная информация отсутствует.
Отзывы
Задать вопрос
Будьте всегда в курсе!
Узнавайте о скидках и акциях первым
Новости
Все новости
16 сентября 2024
Радарные уровнеметры
29 августа 2024
Твердотельные аккумуляторы
19 марта 2024
Прямые поставки продукции СВЧ